ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)
ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)は、内部の幾何要素を含む複雑な部品を微細なレベルでデジタル化します。幾何公差評価または設計値/実測値比較のための完全な3Dデータが得られます。この計測用X線CT装置は、小さなプラスチック部品のデジタル化に特に優れています。
- 高解像度
3Kデテクタ(3008 x 2512ピクセル)を搭載 - 高精度
測定室の数学的モデリングを導入 - ワーク位置自動調節機能
5軸制御とソフトウェアによるライブビュー - オールインワンソフトウェア
スキャンから測定・解析までの一貫した高速ワークフローを実現
他のX線CT装置では見ることのできないものを明らかにする
決議ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)は、部品を非常に鮮明なディテールでデジタル化します。その理由の1つは、スキャンデータを取得するために高解像度の3K X線デテクタを搭載していることです。もう1つの理由は、部品を可能な限り最適な位置で測定するためです。これらの理由から、常に最高の分解能でスキャンすることができます。右の写真の左側のデータはZEISS METROTOM 6 scout(GOM CT)で取得したスキャンデータ、右側のデータは一般的なX線CT装置で取得した標準的なデータです。
![Measuring data generated with the ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)](https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/gom-ct-good.ts-1587627625507.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ffd3e39b88093219634b87bf717087fa)
![Not optimized measuring data with ct systems](https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/gom-ct-bad.ts-1587627622456.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=0c84960b05aad92ea2a3aa0168e42900)
![CT system uses mathematical intelligence. CT system uses mathematical intelligence.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=84eb1a44d6c2613880563b02418aa9e3","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=b95dd259abbe4b308ca164e83f71ec6e","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=bbb316e41a03c5c9d845e8a7a7f0e578","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=377a78e8ef5c214e7875949f23971668"})
高い測定精度を保証
ZEISS METROTOM 6 scout(GOM CT)は、数学的インテリジェンスを使用して高精度の3Dスキャンデータを生成します。測定シーケンス全体にわたって完全に相互リンクされたアルゴリズムを測定室のデジタルモデリングと組み合わせます。さらにシステムはスキャンに関連するすべてのコンポーネントが、最適化された機械的安定性を備えています。そのため、測定結果に基づき、部品の品質を真に信頼できる高精度な方法で評価し、更なる解析を行うことができます。
簡便な部品のセンタリング
センタリングテーブルに統合された5軸制御システムにより、部品の測定範囲内における最適な配置を実現できます。筐体内ののロータリテーブル上に部品を置くだけで、残りの正確な位置決めはソフトウェアによって行われます。
A 5-axis kinematics with integrated centering table helps you to optimally position the part in the measuring volume. You simply place it in the machine’s measuring room – the rest is done by the software.
![Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6. Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=084a3b2afd3aa90e056ac197ba1355b5","large":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=dced2a3864cbae9870b90d9e1f465b21","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=793a05786ef2ba0464226817cd50de20","full":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ab55b4f5a63de257dad040ae20f913c8"})
オールインワンソフトウェア
X線CT装置の制御とスキャンデータの評価がひとつのソフトウェアパッケージに統合されているため、追加のソフトウェアや中間ステップが不要です。生データの取得から検査、測定レポートの作成までのプロセスチェーンが大幅に簡素化されています。
GOM Volume Inspectによる包括的な評価
Gom Volume Inspectを使用すると、3Dで完全なCTデータ分析を実行し、部品の品質を評価し、製造プロセスを最適化できます。個々の断層画像を使用してレイヤーごとに表示できるため、細部や内部欠陥までも表示することができます。検出された欠陥は詳細に分析され、さまざまな基準に従って自動的に評価されます。さらに、複数の部品のスキャンデータをロードし、傾向分析を実行したり、CADデータと設計値比較を実施することもできます。すべての測定結果はドキュメント化され、最終的に適切に構成されたレポートにまとめられます。直感的な操作と高いパフォーマンスによって、CTデータをかつてないほど容易に分析することができます。
![Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=67d5497d079a21d8e9668f0d10b2800b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=8555d354001fd404969afd442d354a15","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=b21d83ef6cac6e2d540a3480142d6c3c","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=2c73df3a0739b74ed6c7d14b2dfd379c"})
テクニカルデータ
仕様X線管:最大管電圧 |
225 kV |
デテクタ |
解像度:3008 x 2512ピクセル |
測定範囲 |
直径:240 mm 高さ:400 mm |
ボクセルサイズ |
2 µm - 80 µm |
装置寸法 |
高さ: 2210 mm |
装置重量 |
4800 kg |
適用分野 |
初品検査、金型修正、製造品検査 |
機能検査 |
内部構造、肉厚、材料欠陥、ボイドおよびキャビティ |
測定項目 |
幾何形状測定、設計値-実測値比較、組み立て検査 |