マルチセンサ測定機による受託測定

160年以上もの歴史を持つZEISSは、「光学製品」や「高精度」の代名詞となっています。そのため、光学式測定技術は当社では特別な位置を占めています。

（日本では本サービスは実施しておりません）

概要
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推奨事項
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適用範囲

  • 品質管理/検査
  • 測定データとCADデータとの設計値/実測値比較
  • ツール製造と金型製作
  • トポグラフィ測定、表面測定技術
  • ツールの再構築
  • スキャンデータからの加工用経路の作成
  • ツール作成後の実測値の取得
  • 設計
  • CAD処理、ドキュメント化のための設計モデルのスキャニング
  • ラピッドプロトタイピング
  • リバースエンジニアリング
  • 美術品や考古学的遺物等のドキュメント化

（日本では本サービスは実施しておりません）


光学式測定によるメリットは、高い点密度と測定速度です。非常に短時間で、多くの情報を取得できます。非接触およびトポグラフィ測定用にホワイトライトセンサを装備したマルチセンサ測定機
ZEISSO-INSPECTや3Dスキャナを使用します。


製品の表面全体をデジタル化して分析したいとお考えですか？当社の高精度3Dスキャナは、お客様のニーズに対するソリューションです。3Dスキャナはほんの数秒以内に非常に大量の非常に正確なデータを記録します。CNC制御のロータリーテーブルにより、効果的な測定とデジタル化が可能です。

非常に高い点密度のおかげで、短時間で製品を総合的に評価できます。設計値/実測値比較、再校正、ツール修正データ等を簡易かつ高い信頼性で生成できます。

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O-INSPECT Accessories Flyer A6, DE

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O-INSPECT Accessories Flyer A6, EN

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O-INSPECT Flyer, DE

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O-INSPECT Flyer, EN

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ページ: 5
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ZEISS O-DETECT Flyer CN

ZEISS O-DETECT Flyer CN
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ZEISS O-DETECT Flyer, DE

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ページ: 4
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ZEISS O-DETECT Flyer, EN

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ページ: 4
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ZEISS O-DETECT One-page Overview Digital Flyer, DE

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ページ: 1
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ZEISS O-DETECT One-page Overview Digital Flyer, EN

ZEISS O-DETECT One-page Overview Digital Flyer, EN
ページ: 1
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ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN
ページ: 7
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ZEISS O-INSPECT Flyer CN

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ページ: 4
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ZEISS Quality Excellence Center Brochure Online EN

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ZEISS Quality Excellence Center Broschüre Online DE

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ページ: 11
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ZEISS Quality Excellence Center Image Präsentation, DE

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ZEISS Quality Excellence Center Image Presentation EN

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