CMMおよびスタイラス校正用

校正治具で、測定機の精度を厳密に監視することができます。ツァイスのポートフォリオは座標測定機、マルチセンサデバイス、CT測定機、あるいは粗さまたは表面測定プロ―ブ向けの校正治具がラインナップされています。

校正が正確に実施されていることはすべての測定の前提条件です。校正を行うには校正球が必要です。校正球には用途に応じて、球、リング、光学ゲージを使用します。この校正球は基準スタイラスで測定します。測定することでソフトウェアにより校正球の位置と形状が認識されます。以降のスタイラスはこれに関連付けられて校正されます。