Dimensional X線 CTによりシリコンの変化を可視化

Dimensional X線 CTにより、私たちは他の方法では実現不可能な製品内部の観察ができます。これは、材料が実際の条件下でどう変化するのかを実際に把握し、再計算および、それ以降も適用するための情報を取得する唯一の方法です。」と、starlim//sterner社のR&Dマネージャ、Johannes Pichler氏は説明します。部品の形状や組み合わせが製品にどのように影響するかは、外観だけではわからず、予測が非常に立てにくいものです。そこで以前は、starlim//sterner社は複雑な方法（時には破壊検査）で品質検査を行っていました。そのため、開発工程は大幅に長期化していました。

「以前は、私たちは主に製品開発者の経験と一般常識に頼っていました。今では、あらゆるディテールを極めて確実に再現可能な方法で測定できます。」と、Pichler氏は言っています。彼は、本当のメリットは非破壊測定による高速化ではなく、その品質にあると考えています。starlim//sterner社の、年間何百万個も製造するような大量生産では、欠陥が見つかると壊滅的な影響を及ぼします。「CT測定により、製品の寿命を大幅に伸ばすことができます。部品が長期にわたり安定して使えることで、製品の全体の品質を向上させ、当社のお客様のブランド力を強化することができます。」と、開発マネージャは説明しています。